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电容老化失效测试解决方案
还可以利用先进的无损检测技术如红外热成像、X射线检查等手段来辅助判断并评估电容器内部结构和材料状态,在未破坏外壳情况下快速找出存在潜在故障点。
2024-07-26
高温老化测试的原理和试验机
高温老化测试旨在模拟电子元件在长期高温环境下的工作情况,以验证其稳定性和耐久性。通过暴露样品在高温条件下进行加速老化,可以检测材料、连接器、焊接等部件受热引起的退化情况,从而评估其寿命和可靠性。
2024-07-26
片式电容器浪涌及老化测试系统的设计
片式电容器在电子设备中扮演着重要的角色,但受到电压浪涌和老化等因素的影响,其性能和可靠性可能会受到挑战。为了确保电容器在实际工作环境中能够稳定运行,设计合适的浪涌及老化测试系统显得尤为重要。本文将介绍片式电容器浪涌及老化测试系统的设计原理和关键要点。
2024-07-26
电子元器件老化测试技术
有效地验证和诊断电子元器件在各种极端工作条件下是否仍然具有良好功能和稳定性。同时也可以帮助制造商提前发现潜在问题并采取相应措施来改进产品质量和延长使用寿命。目前,随着科学技术不断发展,针对新型材料和新型器件(比如光纤通信部分)也正在不断探索更多先进且精确预测算法与实际关联数据建立经验积累,相关领域也有了更多新思路。
2024-07-26
电源适配器老化测试方法分享
交流老化测试是一种常见的电源适配器老化测试方法,通过施加一定频率和幅值的交流信号来对电源适配器进行老化测试。这种方法可以模拟实际工作条件下的使用情况,检测在高频率下电源适配器是否存在损耗、泄漏等问题。
2024-07-26
EMI 测量是使用电源输入端的 LISN
使用源极接片晶体管从根本上消除了 EMI 的重要来源。尽管有很长的弯曲引线,但 GaN 的性能却让我感到惊讶。具有源极中心引脚 TO-247 的引脚排列将允许比电流漏极接片晶体管更好的布局,并且可能具有更多的 EMI 改进和更低的损耗。
2024-07-26
电流测量的模拟直流电流表知识
由于 PMMC 的偏转与通过其线圈的电流成正比,因此该仪器本质上是一个电流表。然而,它只能直接用作电流表,仅适用于运动线圈中流动的非常小的电流水平。如果需要测量更大电流的电流表,则必须进行修改。
2024-07-26
圣邦微电子推出具有模拟电流检测功能的双通道车规级高压侧驱动器
SGM42203Q 是一款汽车 Q1 级,操作电压 4.5V 到 36V,60V (ABS),80mΩ 电流可设双通道高边驱动器。芯片过流门限值可通过 CL 引脚编程:2.5A、5A、10A、15A 和 22A;支持高达 260mJ 感性负载钳位能量;当 VCC 出现低能量尖峰,内部 VCC 电压钳位会保护器件;器件集成的比例电流检测功能
2024-07-26
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