TH2640A 耐冲击精密电容测试仪
主要参数:
•介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
•磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
•半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
| 产品型号 |
TH2640A |
TH2640B |
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| 显示 |
显示器 |
10.1 英寸电容触摸屏 |
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| 比例 |
16:9 |
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| 分辨率 |
1280×RGB×800 |
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| 测量参数 |
方式 |
四参数任意选择 |
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| AC |
Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC |
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| 测试频率 |
范围 |
100Hz-500kHz |
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| 精度 |
0.01% |
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| 分辨率 |
1mHz (100.000Hz-999.999Hz) |
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| 10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz) |
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| 100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz ) |
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| 1Hz (100.000kHz-999.999kHz) |
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| 10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz) |
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| AC 测试信号模式 |
额定值 (ALC OFF) |
设定电压为测试端开路时 Hcur 电压 |
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| 设定电流为测试端短路时从 Hcur 流出电流 |
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| 恒定值 (ALC ON) |
保持 DUT 上电压与设定值相同 |
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| 保持 DUT 上电流与设定值相同 |
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| 测试电平 |
电压范围 |
0Vrms-20Vrms |
| 准确度 |
±(10%×设定值 +2mV)(AC≤2Vrms) ±(10%×设定值 +5mV)(AC > 2Vrms) |
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| 分辨率 |
1mVrms (5mVrms-1Vrms) |
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| 10mVrms (1Vrms-20Vrms) |
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| 电流范围 |
50μArms-100mArms |
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| 分辨率 (20Ω内阻 ) |
10μArms (50μArms-10mArms) |
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| 100μArms (10mArms-100mArms) |
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| 测试端配置 |
五端 |
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| 测试电缆长度 |
0m |
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| 输出阻抗 |
20Ω,±4%@1kHz |
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| 数学运算 |
与标称值的绝对偏差Δ,与标称值的百分比偏差Δ% |
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| 等效方式 |
串联、并联 |
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| 校准功能 |
开路 OPEN、短路 SHORT、负载 LOAD |
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| 测量平均 |
1-255 次 |
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| 量程选择 |
自动 AUTO、手动 HOLD |
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| 量程配置 |
50mΩ、100mΩ、200mΩ、500mΩ、1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、 1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ |
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| 测量时间(ms) |
快速 : 10.4ms 中速 : 90.4ms 慢速 : 218ms |
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| 基本测量准确度 |
0.05%(具体参考说明书) |
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| 测量显示范围 |
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| Cs、Cp |
0.00001pF-9.99999F |
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| Ls、Lp |
0.00001μH-99.9999kH |
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| D |
0.00001-9.99999 |
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| Q |
0.00001-99999.9 |
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| R、Rs、Rp、X、Z |
0.001mΩ-99.9999MΩ |
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| G、B、Y |
0.00001μs-99.9999S |
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| θr |
-3.14159-3.14159 |
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| θd |
-179.999° -179.999° |
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| Δ% |
±(0.000%-999.9%) |
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| 多功能参数列表扫描 |
点数 |
201 点,每个点可设置平均次数,每个点可单独分选 |
| 参数 |
测试频率、AC 电压、AC 电流 |
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| 触发模式 |
顺序 SEQ:当一次触发后,在所有扫描点测量,/EOM/INDEX 只输出一次 |
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| 步进 STEP:每次触发执行一个扫描点测量,每点均输出 /EOM/INDEX,但列表扫描比较器结果只在最后的 /EOM 才输出 |
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| 其他特点 |
1. 扫描参数与测试参数都有多种复制功能 2. 每个扫描点均可设置延时 3. 结果显示字体无极放大 |
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| 比较器 |
每个扫描点最多可测量四个测试参数,每个参数均可设置上下限,所有测试参数都合格输出 PASS 信号,否则输出 FAIL 信号,未设上下限则不判断 |
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